Байесовские методы в задаче определения кристаллической структуры вещества

Уточнение параметров структурной модели кристалла в рамках дифракционных методов зачастую усложняется из-за наличия систематических ошибок (СО), являющихся признаком некорректности математической модели эксперимента. Источником СО может служить, к примеру, приближенный характер описания различных эффектов в рамках кинематической теории дифракции. Один из подходов к решению данной проблемы заключается в использовании байесовских методов, которые позволяют строить различные регуляризирующие техники на основе дополнительной информации, известной о системе. На семинаре будет рассмотрен байесовский подход к проблеме учета СО в дифракционных экспериментах на примере метода Ритвельда, а также проблемы полного нейтронного рассеяния. В рамках данного подхода будут построены вероятностные модели для СО различных типов, позволяющие дополнить модель эксперимента информацией о возможном наличии СО.