Развитие методов малоугловой дифракции, малоуглового рассеяния и рефлектометрии поляризованных нейтронов для диагностики магнитных наноматериалов
Авторы:
С. В. Григорьев, А. А. Мистонов, В. А. Уклеев
Авторы из ОИКС:
Год публикации:
2015
Журнал:
Вестник РФФИ
N 86
vol. 2
35 -- 40
Ключевые слова:
рефлектометрия поляризованных нейтронов, малоугловое рассеяние, наноструктуры, магнитные пленки, опалоподобные структуры
Абстракт:
Новые методы поверхностного и объемного рассеяния нейтронов и синхротронного излучения применены для структурной диагностики и изучения магнитных свойств дву- и трехмерных наноматериалов. Рефлектометрия поляризованных нейтронов позволяет исследовать магнитные профили неоднородных нанокомпозитных гетероструктур, а малоугловое рассеяние синхротронного излучения в скользящей геометрии – определить их структурное упорядочение в плоскости слоев. Методика малоугловой дифракции поляризованных нейтронов и синхротронного излучения использована для исследования инвертированных ферромагнитных опалоподобных кристаллов.