Развитие методов малоугловой дифракции, малоуглового рассеяния и рефлектометрии поляризованных нейтронов для диагностики магнитных наноматериалов

Авторы:
С. В. Григорьев, А. А. Мистонов, В. А. Уклеев
Авторы из ОИКС:
Год публикации:
2015
Журнал:
Вестник РФФИ N 86 vol. 2 35 -- 40
Ключевые слова:
рефлектометрия поляризованных нейтронов, малоугловое рассеяние, наноструктуры, магнитные пленки, опалоподобные структуры
Абстракт:

Новые методы поверхностного и объемного рассеяния нейтронов и синхротронного излучения применены для структурной диагностики и изучения магнитных свойств дву- и трехмерных наноматериалов. Рефлектометрия поляризованных нейтронов позволяет исследовать магнитные профили неоднородных нанокомпозитных гетероструктур, а малоугловое рассеяние синхротронного излучения в скользящей геометрии – определить их структурное упорядочение в плоскости слоев. Методика малоугловой дифракции поляризованных нейтронов и синхротронного излучения использована для исследования инвертированных ферромагнитных опалоподобных кристаллов.

Вверх